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| 2009/09/22 21:32:03瀏覽2605｜回應0｜推薦0 | |
Testbench
Testbench 是一個測試平台，它可針對受測元件的規格，產生一連串的 input pattern，並監測受測元件的 output pattern 是否與預期的結果相符。(請參考圖 5-3-4)
一般而言，testbench 主要是由三大元件所組成，分別為：一、transactor；二、reference model；三、monitor。其中，transactor 負責產生 input pattern (亦稱為 stimulus)；reference model 則可執行等同於受測元件所能執行的各項功能，只是其內部的實作方法與受測元件不同；monitor 則負責監視受測元件與 reference model 的輸出結果，並比對兩者的輸出結果是否相同；如果兩者的輸出結果不同，則可能的情況有兩種：一、其中一個做對，另一個則做錯；二、兩者都做錯，但錯得不一樣；如果兩者的輸出結果相同，則可能的情況也是有兩種：一、兩者都做對；二、兩者都做錯，但卻錯得一模一樣。 總括上述四種情況，只有「兩者都做錯而且錯得一模一樣」的情況，才會讓測試者無從察覺錯誤的存在；但是遇到「兩者都做錯而且錯得一模一樣」的情況之機率非常小，因為 reference model 的選擇，通常會找經過驗證的或是業界公認可靠度很高的 model，來作為 testbench 的 reference model，所以會遇上此種情況的機率很小；但如果不幸碰上了，則其瑕疵就很有可能會穿越品管牆。(請參考圖5-3-5)
Testbench 中的 transactor，其主要的工作是做 test pattern generation，而依其產生的方式，又可分為三種：一、directed generation；二、random generation；三、directed random generation。其中，directed generation 是指 test pattern 被一個一個直接了當地指定為某固定之值，而且每回的測試都是使用這些固定之值，故此種測試稱為 directed test；random generation 是指 test pattern 是由亂數產生器所產生的亂數值所組成，因此每回的測試之值都不一樣，故此種測試稱為 random test；directed random generation 是指 test pattern 是由亂數產生器所產生的亂數值所組成，但這些亂數值是經過限制條件的篩選，不是全然的隨機亂數值；亦即在 test pattern 的產生過程中，如果當前的這筆亂數值不符合限制條件，就必須再產生另外一筆亂數值，直到某筆亂數值符合限制條件為止；因此，雖然每回的測試之值不盡相同，但是必定符合其所指定的限制條件，故此種測試稱為 directed random test。 |
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