一、何謂檢出限界(Limit Of Detection,LOD )
定義：檢出限界是指樣品中所含的被測物質可被檢出的最低量或濃度。在檢出限界內並不意味著一定就能夠進行定量。
評價方法：檢出限界可以通過空白樣品或檢出限界附近的樣品測定值的標準偏差以及檢出限界附近的標準曲線的斜率算出。例如，根據檢出限界附近的標準曲線的斜率以及空白樣品測定值的標準偏差，由下式求出檢出限界。　　  

DL(檢出限界)= 3σ/slope　　　　
　
slope：檢出限界附近標準曲線的斜率
    σ：空白樣品測定值的標準偏差　
應用在能譜法時，測定值的標準偏差可以用信噪比代替。分析方法的檢出限界應比質量標準中規定值要小。
 
二、何謂定量限界(Limit Of Quantitation, LOQ )
定義：定量限界是指樣品中所含的被測物質可被進行定量的最小量或最低濃度。定量限界所述樣品測定值的精度，以相對標準偏差表示，一般為10%。
評價方法：通常定量限界可以通過空白樣品或被測物定量限界附近的樣品測定值的標準偏差以及定量限界附近的標準曲線的斜率算出。例如，根據定量限界附近的標準曲線的斜率以及空白樣品測定值的標準偏差，由下式求出定量限界。
　　
QL(定量限界)=10σ/slope
　　
slope：定量限界附近標準曲線的斜率
　  σ：空白樣品測定值的標準偏差
應用能譜法時，測定值的標準偏差可以用信噪比代替。分析方法的定量限界應比質量標準中規定值要小。
 
目前套在XRF的算法是
檢出限界 = 3 * Sbg / M
定量限界 = 10 * Sbg / M
Sbg 是空白樣品的標準偏差,Sbg 在這的定義是：
  
  Sbg = SQRT(IBG / t)

這裡 SQRT( )代表平方根,
IBG：空白樣品的強度( intensity(cps)),
    t ：量測時間(measurement time).
  M ：靈敏度(Sensitivity).靈敏度是校正曲線的斜率.
 

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