本半導體元件特性分析儀器系列使用不同的方法，滿足今日多樣化的使用者需求。 本頁內容：摘要 · 服務比較 · 相關服務 · 產品與服務 摘要 新手和進階使用者皆可使用的完整參數測試解決方案 安捷倫的半導體參數/元件分析儀系列，可同時提供傳統和 ...

吉時利參數分析儀 參數測試 是可實現半導體元件、材料和製程綜合電氣特性分析的高性能靈活系統。 從基本的I-V和C-V測量掃瞄到進階超快速脈衝I-V、波形產生和捕獲和暫態I-V測量，吉時利的參數分析儀隨時準備處理您現在和未來的測試需求。

吉時利4200-SCS參數分析儀是什麼？ 4200-SCS是一台模組化、完全整合的參數分析儀，可進行材料、半導體元件和製程的電氣特性分析。從基本的I-V和C-V量測掃描，到先進的超快速脈衝IV、波形擷取和暫態I-V量測，4200-SCS提供研究人員或工程師設計、開發和 ...

設備品牌：HP半導體參數分析儀型 號：4145B Semiconductor Parameter Analyzer 購入時間：2008年3月 機台現況：使用功能正常 ... ... 中古儀器 HP半導體參數分析儀 設備品牌： HP 半導體參數分析儀 型 號： 4145B Semiconductor Parameter Analyzer

4155C 半導體參數分析儀 [已停產] 產品狀態: 已停產 | 目前可支援 支援服務到期日: 1 January 2017 查閱產品資訊 目前的韌體/軟體版本 版本: 16.3.17914.4 發佈日期: 2013-11-27 查閱產品型錄 零件 維修與校驗服務 ...

並可由 Agilent 4156C 半導體參數分析儀 及 Agilent 4284 LCR Meter 量測在不同溫度下作元件特性的量測和可靠度研究，更能釐清其中的物理機制，是研究分析材料低溫電性不可或缺的利器 ...

儀器圖檔 儀器名稱 半導體參數分析儀 (Semiconductor Parameter Analyzer) 購置時間 2003 / 10 設備金額 142 萬元 主機廠牌 HP 型號附件 4155C 設備用途 半導體元件特性之測量。任何時段皆可預約，但請先行預約時間。

w 地點 ： 電機二館452室 w 儀器負責人： R451 蔡明瑋 w 使用條件 ： 經過資格測試許可後使用 w 儀器功能 ： 可量測半導體元件之快速直流特性

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您目前位置： 首頁 產品介紹 Keithley IV 量測系統 Keithley 4200-SCS半導體參數分析儀 Keithley 4200-SCS半導體參數分析儀 Keithley 4200-SCS半導體參數分析儀 直覺式Windows人機使用界面 All in One方案 具有I-V、C-V、脈衝產生功能以及脈衝I-V測試 ...